一种新的EIT成像优化方法应用

• 作者: 岳士弘 张明
• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻抗断层成像 优化算法 图像重建
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 154-156,160
• 页数: 4页
• 分类号: TP317.4
• 字数: 2487字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13873/J.1000-9787(2018)08-0154-03

摘要

针对现有的电阻抗断层成像(EIT)技术具有非常严重的不适定问题,提出了一种新的优化方法,通过将正则化进行改进,进而通过迭代运算,更有效地减少目标函数的损失值.理论分析和仿真结果均表明:新方法可以获得较现有方法更好的空间分辨率,特别是对于小目标的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明	天津大学电气与自动化工程学院	9	92	6.0	9.0
2	岳士弘	天津大学电气与自动化工程学院	13	104	5.0	10.0