x荧光光谱分析仪检验矿产含量的技术研究

• 作者: 颜威山
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 工学
• 关键词: 矿石分析仪 x荧光 标准曲线
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 综合
• 页码范围: 228,230
• 页数: 2页
• 分类号: TD97
• 字数: 864字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5065.2018.12.129

摘要

矿山开采及选矿过程中,准确、可靠的化检验数据在质量控制中具有重要的作用,传统的化学滴定效率较低,x荧光光谱分析仪的有效应用是必然趋势.矿石中各元素的互相干扰致使x荧光光谱分析仪检测的数据与实际值存在一定的差异,为确保数据的准确性,一般采用最小二乘的数据拟合进行线性和非线性标准曲线绘制,在无法实现非线性曲线的情况下,采用分区段线性绘制及多元素曲线绘制,将非线性问题转换为线性问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜威山		4	0	0.0	0.0