基于电容补偿法测量串联电抗器的有功损耗分析

• 作者: 冯彪 文哲 杨叶龙 蒋强 魏红云
• 来源期刊: 电气技术
• 关键词: 电容补偿法 串联电抗器 低功率因数
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 100-102
• 页数: 3页
• 字数: 1247字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3800.2018.12.020

摘要

串联电抗器共同点就是低功率因数,一般在0.02～0.05之间,大型电抗器的功率因数甚至低于0.01,这就给测量电抗器的有功损耗带来一定的困难.本文介绍了基于电容补偿法的有功损耗测量方法的原理.通过理论计算证明了该试验方法能有效提高串联电抗器的有功损耗测试精度.该方法对实际测量低功率因数的串联电抗器的有功损耗,具有一定的借鉴作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋强		4	4	2.0	2.0
2	冯彪		1	0	0.0	0.0