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摘要:
基于NI TestStand管理软件,设计了一套测试软件,实现了对符合ISO/IEC 18000-63协议的芯片清点功能的测试.本测试软件使用NI RFID测试仪,根据测试设计人员的需求开发出自动化测试序列,自动完成与被测芯片的通信交互,实现对响应的判断,并完成结果的保存.该软件充分采用了NI TestStand,相比之前测试清点功能的传统的手动测试、半自动测试,测试时间分别缩短了5/6、2/3.实践证明,使用本测试软件可以提高对超高频电子标签开展功能测试的效率.
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文献信息
篇名 基于NI TestStand的超高频电子标签清点功能自动化测试序列软件的设计与实现
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 射频识别 超高频 TestStand
年,卷(期) 2018,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 66-69
页数 4页 分类号 TP391.44
字数 2756字 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2018.04.017
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作者信息
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1 王栋 2 1 1.0 1.0
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节点文献
射频识别
超高频
TestStand
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
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15
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