电子背散射衍射法在晶粒度分析中的应用

• 作者: 朱剑
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电子背散射衍射法 晶粒度
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 59-63,69
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2018.05.017

摘要

研究分析了在ASTM E112及ASTM E1382标准规定下,使用电子背散射衍射法(EBSD)对三种不同的金属材料进行晶粒面积及分布的测定,并进行晶粒度分析的试验过程,探索了电子背散射衍射法在晶粒度测定中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱剑		4	2	1.0	1.0