背景辐射对恒虚警补偿下APD倍增因子的影响

• 作者: 刘贺雄 周冰 范磊 贺宣 高宇辰
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子 探测器 雪崩光电二极管 背景辐射 恒虚警概率 探测能力 雪崩增益
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 探测器
• 页码范围: 50-56
• 页数: 7页
• 分类号: TN215
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20184710.1004003

摘要

针对恒虚警下雪崩光电二极管输出信号、噪声与倍增因子相互影响的问题,分析了雪崩光电二极管自身噪声、背景辐射对其探测性能的影响及恒虚警补偿方式的原理,建立了背景辐射与恒虚警下倍增因子的关系模型.对模型进行了实验验证,并通过仿真分析了不同虚警概率、阈值电流、噪声电流下背景辐射与倍增因子的关系.结果表明:倍增因子会随背景辐射的增大而减小,且减小速率逐渐减缓;当背景辐射不变时,虚警概率或阈值电流的增大都会使倍增因子增大;热噪声与放大器噪声有效值之和对倍增因子影响较大,而暗电流对倍增因子的影响较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘贺雄	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	11	7	2.0	2.0
2	周冰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	14	10	2.0	2.0
3	贺宣	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	10	4	1.0	2.0
4	高宇辰		3	1	1.0	1.0