一个疑似银离子迁移所致故障案例的分析

• 作者: 张建平
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 电池 漏电 继电器 银离子迁移
• 年，卷（期）: 2018,（17）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 字数: 1452字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.17.011

摘要

本文针对本公司的某型产品进行详细的故障分析,不断寻找产品故障的深层次原因,并排出其他原因.最终确定故障原因为银离子迁移,并依此提出一个合理的产品故障解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建平	中国船舶重工集团公司第七二六研究所	2	1	1.0	1.0