基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
为有效检测航天系统密封圈表面的缺陷,提出一种基于Ward反射模型的检测方法.根据Ward反射模型计算密封圈曲面在不同光源方向和不同观测方向下的辐射强度.通过计算得到密封圈表面的灰度阈值,提取出相机采集的密封圈表面高亮区域.对于不带缺陷的密封圈,当某区域产生缺陷后,该区域各像素点的表面法向发生改变,造成在相同的光源方向与观测方向下,表面灰度图像中高亮度区域与基于Ward模型的表面高辐射区域在数量和位置上不对等.由基于Ward模型的辐射图像确定比值ks,提取出该密封圈不带缺陷时其灰度图像中的高亮度区域.在提取出的相机采集的密封圈表面高亮区域中,结合图像噪声、密封圈表面细微粉尘和若该密封圈不带缺陷时的灰度图像中的高亮度区域这三者面积,筛选出密封圈缺陷区域.实验结果表明,该方法能够有效地提取密封圈表面的凹痕、飞边等缺陷,并能给出占据的像素面积.
推荐文章
橡胶密封圈几何尺寸图像检测技术研究
万能工具显微镜
坐标转换
图像处理
喷油器唇形密封圈结构强度分析
喷油器
唇形密封圈
结构强度
航天器中一种典型O形密封圈的有限元分析
航天器
密封
O形圈
接触应力
影响因素
刀具半径补偿功能在密封圈胶模型腔加工中的应用
胶模型腔
数控加工
刀具半径补偿
密封件
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 基于Ward反射模型的航天密封圈表面缺陷检测
来源期刊 计算机工程 学科 工学
关键词 Ward反射模型 灰度图像 辐射强度 表面缺陷 缺陷检测
年,卷(期) 2018,(7) 所属期刊栏目 开发研究与工程应用
研究方向 页码范围 297-302
页数 6页 分类号 TP391
字数 3479字 语种 中文
DOI 10.19678/j.issn.1000-3428.0047159
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何博侠 南京理工大学机械工程学院 26 165 9.0 11.0
2 韩阳 南京理工大学机械工程学院 3 7 2.0 2.0
3 刘辉 南京理工大学机械工程学院 4 4 1.0 1.0
4 孙钧成 南京理工大学机械工程学院 2 6 2.0 2.0
5 童楷杰 南京理工大学机械工程学院 2 11 2.0 2.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (106)
共引文献  (119)
参考文献  (12)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (6)
二级引证文献  (2)
1967(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1980(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1981(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1982(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1984(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1985(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
1986(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1987(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1988(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1989(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1990(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1991(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1992(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1994(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1995(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
1996(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1997(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1998(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
1999(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2000(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2002(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2003(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2004(6)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(6)
2005(7)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(6)
2006(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2007(6)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(5)
2008(10)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(9)
2009(3)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(1)
2010(9)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(9)
2011(9)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(8)
2012(6)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(6)
2014(4)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(1)
2015(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2017(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2018(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2019(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2020(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
Ward反射模型
灰度图像
辐射强度
表面缺陷
缺陷检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程
月刊
1000-3428
31-1289/TP
大16开
上海市桂林路418号
4-310
1975
chi
出版文献量(篇)
31987
总下载数(次)
53
总被引数(次)
317027
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
论文1v1指导