基于DCQGA-SMKL-SVM的模拟电路故障诊断方法

• 作者: 汪斌斌 颜学龙 龚流青
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路故障诊断 双链量子遗传算法 简单多核支持向量机
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 高性能计算
• 页码范围: 1944-1950
• 页数: 7页
• 分类号: TP302
• 字数: 5519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2018.11.005

摘要

提出了双链量子遗传算法(DCQGA)优化简单多核支持向量机(SMKL-SVM)的模拟电路故障诊断方法.首先,提取测试电路时域响应信号,用Harr小波对响应信号进行变换并归一化处理,得到特征参数;其次,用双链量子遗传算法优化SMKL-SVM的参数,以此建立起DCQGA-SMKL-SVM故障诊断模型,用于模拟电路故障诊断.双二次滤波器电路与四运放二阶高通滤波器电路作为仿真测试电路,仿真测试结果表明,提出的故障诊断方法实现了模拟电路故障诊断,相比于DCQGA-SVM模拟电路故障诊断方法,诊断正确率更高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	龚流青	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	2	1.0	1.0
3	汪斌斌	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	3	4	2.0	2.0