基于LabVIEW的工业控制器的位移检测系统

• 作者: 廖远江 张永平 李建国 王敦远
• 来源期刊: 制造业自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 工业控制器 位移检测 LabVIEW 光栅尺
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 检测与监控
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TP274.5
• 字数: 1336字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0134.2018.05.003

摘要

工业控制器作为机器的指挥机构,其性能的好坏直接影响到产品的质量.而位移是工业控制器中重要的几何参数,因此对它的检测很有必要.随着工业技术的发展,就传统测量仪器存在实时性不强、功能固定、设备连接受限,无法满足当下客户的需求,提出一种基于LabVIEW的高精度位移检测系统,对位移进行测量与分析.通过位移驱动装置,使用位移传感器(光栅尺),将位移信号的光信号转换为电信号,利用LabVIEW平台编写操作界面和数据处理程序.在对系统进行校准后,此系统相对误差小于0.001.系统结构简单、操作方便、实时性强、速度快,可以应用于工业控制器的位移检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖远江	宁波工程学院电子与信息工程学院	9	26	2.0	5.0
2	张永平	宁波工程学院电子与信息工程学院	16	160	5.0	12.0
3	李建国	长安大学电子与控制工程学院	4	23	2.0	4.0
4	王敦远	长安大学电子与控制工程学院	2	2	1.0	1.0