基于AVR单片机的测试模块在半导体编带设备上的应用

• 作者: 石巍
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: AVR单片机 ADC 测试 编带机
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 108,110
• 页数: 2页
• 字数: 1186字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.01.045

摘要

本文介绍了基于AVR单片机为核心的半导体器件测试模块设计,在对KTP100编带机的技术改造中,通过AVR单片机ATMEl MEGA8的ADC功能对TO-92封装产品加电后输出的检测,判断产品的合格与否,实现了对TO-92产品编带机附加电性测试功能.