CMOS像素阵列校正系统

• 作者: 张远 曾夕 温建新
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 CMOS图像传感器 像素校正 成像不一致
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|TP391.41
• 字数: 2931字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2018.05.008

摘要

研究了CMOS像素阵列中的成像不一致性主要成因,并针对像素和读出电路的不一致性提出了一种应用于CIS的CMOS像素阵列校正系统,介绍了基于此校正系统的具体校正方法.基于HL 55 nm工艺完成芯片设计和平台测试,在不同温度条件下,验证了校正系统的校准效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温建新		2	1	1.0	1.0
2	张远		1	1	1.0	1.0
3	曾夕		1	1	1.0	1.0