X射线荧光光谱技术在片岩化学成分分析中的应用

• 作者: 邹耀辛
• 来源期刊: 辽宁化工
• 关键词: 片岩 X射线荧光分析 化学成分 指示意义
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 593-596
• 页数: 4页
• 分类号: TQ041.+7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0935.2018.06.035

摘要

X射线荧光光谱全岩化学成分分析技术,在火山熔岩分类命名中应用效果很好,但在变质岩岩石分类命名中很少应用.本次研究,利用X射线荧光光谱分析技术,通过建立样品中元素测量条件、硅酸盐系列曲线方程参数,利用熔片法,对39件区域变质岩的片岩样品进行全岩化学成分分析,讨论片岩的全岩化学成分分析数据的地学意义.片岩的全岩化学成分统计结果显示:随着片岩中长英质矿物含量增加,片岩的挥发系数有逐渐变小的趋势;随着片岩中长英质矿物含量减少,片岩中(Na2O+K2O)含量和δ值逐渐变小,片岩的全岩化学成分数据有明显的地学指示意义.片岩样品岩石薄片鉴定与全岩化学成分分析结果比对发现,片岩的全岩化学成分数据对片岩的岩石分类命名只能起到辅助作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹耀辛		3	0	0.0	0.0