总线胚胎电子细胞阵列中空闲细胞数目优选

• 作者: 孟亚峰 孟繁卿 朱赛 王涛 蔡金燕
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 胚胎电子 总线 空闲细胞 故障修复 硬件资源消耗 可靠性 多态系统
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1461-1467
• 页数: 7页
• 分类号: TP302.1|TP302.7
• 字数: 5524字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.06.027

摘要

胚胎仿生硬件技术为高可靠性大规模集成电路系统设计提供了一种新思路.在确定规模的总线胚胎电子细胞阵列中,为兼顾阵列的硬件资源消耗和可靠性,本文提出了一种阵列内空闲细胞数目的优选方法.基于多态系统可靠性理论,利用通用生成函数建立阵列的可靠性模型. 以阵列 MOS ( Metal Oxide Semicon-ductor)管消耗数目为硬件资源消耗衡量指标,建立阵列的硬件资源消耗模型.基于阵列的可靠性和硬件资源消耗模型,在一定设计约束条件下,对阵列内空闲细胞数目进行优选.仿真实验和分析表明,该方法能够根据阵列设计要求选择最合适的阵列内空闲细胞数目,同时,解决了胚胎电子细胞阵列中空闲细胞数目选择依靠经验的问题.