一种电磁继电器寿命评估的新方法

• 作者: 何天磊 徐俊元 徐喆 王晓剑 陈聪
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 加速寿命试验 威布尔分布 Arrhenius模型 寿命评估
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 寿命预测
• 页码范围: 66-71
• 页数: 6页
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3525字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2018.04.013

摘要

温度、湿度和有机污染物是影响电磁继电器失效的主要老化因素,在对其老化机理分析的基础上,设计了继电器的工作加速寿命试验.利用平均秩次法和最小二乘法对试验数据进行分析处理,获得威布尔分布模型的两个参数,得到继电器在不同温度下的可靠度函数.利用90％的可靠度寿命τ(0.9)作为继电器的使用寿命,建立寿命与温度的关系,从而计算出触点材料的活化能Ea,进而得到继电器的Arrhenius寿命评估模型.利用模型计算出继电器在现场实际使用温度或给定温度下的使用寿命,为现场制定继电器的预防性维修策略提供支持.试验结果表明,所提方法具有一定的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何天磊		3	3	1.0	1.0
2	陈聪		4	7	2.0	2.0
3	王晓剑		3	3	1.0	1.0
4	徐喆		2	2	1.0	1.0
5	徐俊元		3	2	1.0	1.0