低压继电器寿命的智能预测分析

• 作者: 李斌 王文军 苗建伟
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 低压继电器 寿命预测 BP神经网络 灰色理论
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 寿命预测
• 页码范围: 61-65
• 页数: 5页
• 分类号: TM581
• 字数: 2153字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2018.04.012

摘要

继电器寿命是评估继电器性能的一个重要指标.以吸合时间作为主要特征参数,设计了一种测试低压继电器寿命的方法.选择BP神经网络算法和灰色理论算法对低压继电器的寿命进行预测分析,通过预测结果评估两种智能算法的预测性能.仿真和试验结果表明,继电器寿命测试系统能够实现对低压继电器寿命的测试.BP神经网络算法波动适应性更好,精度和相关性更高;灰色理论算法预测趋势更加直接明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文军		10	11	2.0	3.0
2	苗建伟	吉林工程技术师范学院汽车工程学院	4	2	1.0	1.0
3	李斌		10	11	2.0	3.0