检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究

• 作者: 方琼 邵瑾
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 源码版本管理 集合覆盖 测试用例筛选 贪心算法
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|TP301.6
• 字数: 3370字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2018.07.005

摘要

在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS(CheckInManagementSystem),并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例.实验表明,该算法获得的测试集合,在时间约束条件下,能有效覆盖已有代码,充分发挥预检功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方琼		2	0	0.0	0.0
2	邵瑾		2	0	0.0	0.0