DNA自组装中对称瓦片对二进制计数器性能影响研究

• 作者: 朱爱军 胡聪 许川佩 陈端勇
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自组装 瓦片 纳米
• 年，卷（期）: 2018,（17）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 15-19
• 页数: 5页
• 分类号: TP391|TN602
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1801637

摘要

由于纳米制造的特征尺寸不断缩小,自组装被认为是纳米制造与计算的新兴学科与技术.但是,随着复杂系统自组装过程中出现了多种现象,导致最终的自组装模式出现故障.针对对称瓦片现象产生的自组装故障问题,研究了自组装中对称瓦片对二进制计数器性能影响,通过分析对称类型与对称瓦片的位置,建立了对称瓦片与二进制计数之间的确切关系.Xgrow仿真结果表明分析的有效性和正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩		124	676	13.0	19.0
2	胡聪		43	201	8.0	13.0
3	朱爱军		21	38	4.0	5.0
4	陈端勇		2	0	0.0	0.0