基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析

• 作者: 何少佳 祝新军 纪效礼
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 集成电路 精密测量单元 直流参数测试 性能分析 嵌入式
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 52-55
• 页数: 4页
• 分类号: TM135
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.04.014

摘要

文中给出了一种基于精密测量单元的小型集成电路测试系统的设计方法,并对小功率范围进行详细实验验证;该测试系统将电压/电流钳位技术、比较技术、功率扩展技术、恒流源和恒压源技术和四象限驱动技术等多项技术相结合,能够对被测器件(DUT)施加精确地激励值,并准确测量DUT在激励下的响应,该系统同时具备大功率扩展能力满足多种电路测试的需求;系统借助四通道集成仪表放大器电路,结合嵌入式控制器、功率扩展电路以及上位机控制界面共同完成设计,解决了nA级电流无法准确测量的问题,通过优化补偿电路设计,提高电路测试速度;系统性能分析结果表明,文章所设计的小型集成电路测试系统测量精度高、施加激励稳定可靠、响应速度快,相比类似产品节约2/3的硬件设计成本,能够满足集成电路测试中直流参数测试的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何少佳	桂林电子科技大学机电工程学院	42	176	7.0	11.0
2	祝新军		8	8	2.0	2.0
3	纪效礼	桂林电子科技大学机电工程学院	4	5	2.0	2.0