电子元器件加速寿命试验综述

• 作者: 孙丹峰 季幼章
• 来源期刊: 电源世界
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 加速寿命试验 综述
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 页码范围: 21-26
• 页数: 6页
• 分类号: TN06

摘要

加速寿命试验是一种可在短时间内获得产品失效数据的方法。本文综述了加速寿命试验的前提、寿命分布、加速应力、加速模型、加速因子和加速寿命试验分类。通过恒定应力加速寿命试验实例,推算产品正常应力下的寿命特征值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季幼章	中国科学院等离子体物理研究所	56	14	3.0	3.0
2	孙丹峰		40	0	0.0	0.0