随机冲击影响的非线性退化设备剩余寿命预测

• 作者: 司小胜 张正新 李洪鹏 白灿 胡昌华 裴洪
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 随机冲击 非线性退化 寿命预测 期望最大化算法
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 系统工程
• 页码范围: 2729-2735
• 页数: 7页
• 分类号: TP273
• 字数: 5935字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2018.12.16

摘要

退化设备的剩余寿命(remaining useful life,RUL)预测是当前可靠性领域研究的一个热点问题.基于Wiener过程,提出一种考虑随机冲击影响的非线性退化设备RUL预测方法.首先,设备连续退化过程用一个非线性Wiener过程描述,而冲击导致退化水平突变的影响由一个复合泊松过程刻画;其次,基于所建立的退化模型和首达时间概念,推导出剩余寿命概率密度函数及其近似解析解,极大地减少了数值计算时间,并提出一种基于期望最大化算法的模型参数估计方法.数值仿真和航天锂电池实例验证表明,所提方法提高了RUL预测的准确性,对于解决存在随机冲击影响的设备RUL预测问题具有一定的理论指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡昌华	火箭军工程大学测试教研室	33	173	7.0	11.0
2	司小胜	火箭军工程大学测试教研室	16	127	7.0	11.0
3	白灿	火箭军工程大学测试教研室	5	3	1.0	1.0
5	裴洪	火箭军工程大学测试教研室	7	32	3.0	5.0
6	张正新	火箭军工程大学测试教研室	9	99	5.0	9.0
9	李洪鹏		1	2	1.0	1.0