基于形态学的点阵液晶屏缺陷检测方法的研究

• 作者: 严军 孟伟 范欢欢 蒋莉 赵勇
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 点阵液晶屏 缺陷检测 轮廓提取 凸性分析 开闭运算
• 年，卷（期）: 2018,（16）
• 所属期刊栏目: 信息技术及图像处理
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TN919.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1801586

摘要

点阵液晶屏因可显示内容丰富的特点被广泛应用,然而生产中极易产生液晶显示缺陷,目前该类缺陷检测工作仍以人工观察和经验判断为主,存在漏检误检问题.提出一种基于形态学图形处理的点阵液晶屏缺陷自动检测方案,首先估算出单个点阵元素大小,以此确定缺陷大小阈值和结构元素尺寸.然后通过对显示区域轮廓做形态学凸性分析,检测出边缘缺陷.接着,对待处理图像采用形态学开闭运算,利用闭运算前后图像的差图像检测出内部缺陷.实验结果表明,该方案在变化背景环境中针对不同类型缺陷检测具有高准确率,具有良好的工业应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严军		37	142	7.0	10.0
2	孟伟		7	4	1.0	2.0
3	蒋莉		6	3	1.0	1.0
4	赵勇		9	6	2.0	2.0
5	范欢欢		5	0	0.0	0.0