Defect characterization of amorphous silicon thin film solar cell based on low frequency noise

• 作者: Dandan GUO[1] Hongmei MA[1] Hua CHEN[1] Liang HE[1] Linna HU[1] Xiaofei JIA[2] Ying HU[1] Yu QIN[1]
• 来源期刊: 中国科学
• 学科: 工学
• 关键词: Defect characterization amorphous silicon thin film solar cell on low frequency noise
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 页码范围: 249-251
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文