基于门替换技术的电路老化检测预防系统设计与实现

• 作者: 周瑞云 易茂祥 梁华国
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 门替换技术 电路老化 检测 预防 最优控制向量 识别 等精度测量
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 电子技术及应用
• 页码范围: 120-123,128
• 页数: 5页
• 分类号: TN710-34|TP331
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.05.027

摘要

采用传统检测系统存在电路老化数据收集不准确、检测效果差等问题,为了解决该问题,设计了基于门替换技术的电路老化检测预防系统.根据电路老化检测预防原理,架构系统硬件结构框图,并对传感器和即压控振荡器电路进行设计;利用等精度测量原理选取最优输入控制向量、设置路径保护、识别关键门、设计缓解老化电路;将传统系统与本文系统的检测预防效果进行对比实验,由实验结果可知,该系统对电路老化数据收集准确,且检测预防效果较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
3	周瑞云	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	0	0.0	0.0