增强磁共振直方图鉴别中枢神经细胞瘤价值

• 作者: 廉丽敏 李东 李振强 焦俊 荆利民
• 来源期刊: 中国实用神经疾病杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 侧脑室 直方图 磁共振成像 中枢神经细胞瘤 室管膜瘤
• 年，卷（期）: 2018,（15）
• 所属期刊栏目: 论著 临床诊治
• 页码范围: 1718-1723
• 页数: 6页
• 分类号: R743
• 字数: 4130字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12083/SYSJ.2018.15.395

摘要

目的 探讨增强M RI直方图分析鉴别侧脑室中枢神经细胞瘤和室管膜瘤的应用价值.方法 回顾性分析新乡市第一人民医院经手术病理证实的侧脑室中枢神经细胞瘤23例,室管膜瘤20例.收集该两种肿瘤的T1、T2加权和增强T 1磁共振图像,用软件MaZda提取肿瘤的感兴趣区(region of interest,ROI),针对肿瘤最大层面的感兴趣区进行直方图分析,利用平均值、方差、偏斜度、峰度及第1、10、50、90、99百分位数特征,找出两种肿瘤之间的显著性差异.结果 利用直方图提取出的9个参数特征中,平均值、方差及第50、90、99百分位数差异具有统计学意义(P<0.05),偏度、峰度及第1、10百分位数差异无统计学意义(P>0.05),并绘制相应ROC曲线,其中第99百分数鉴别性最好,ROC曲线下的最大面积为0.72,最佳阈值取145.5时,敏感性为65％,特异性75％.结论 直方图分析可以提供更多量化信息特征,可用于鉴别侧脑室中枢神经细胞瘤和室管膜瘤,为鉴别两者提供可靠的客观依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦俊	贵州医科大学附属医院影像科	46	99	6.0	8.0