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摘要:
全新钴酸锂具有良好的层状晶体结构.对经历不同充放电循环次数后的钴酸锂进行×射线衍射(XRD)测试,发现其衍射特征峰发生了明显的偏移,且衍射峰偏移程度随电池的循环次数增加而增加.由此提出钴酸锂晶体结构P值的评价方法:将钴酸锂的4个特征峰(003峰、101峰、006峰和104峰)衍射角度偏差值和晶面间距偏差值相乘后取绝对值,然后将绝对值进行累加得到P值,此值即可用于评估钴酸锂晶体结构失效程度.研究表明:由废旧正极材料中回收并再修复的钴酸锂,当P值低于0.01时,可视同全新钴酸锂用于电池制造.用X射线光电子光谱法(XPS)分析经历不同充放电循环次数后的钴酸锂,其晶体结构由于衍射角度偏差无法精确测定,这可能是循环后钴酸锂表面存在有机物沉积所致.
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文献信息
篇名 钴酸锂晶体结构P值评估法
来源期刊 电源技术 学科 工学
关键词 失效钴酸锂 衍射峰偏移 Fenton 评价方法
年,卷(期) 2018,(12) 所属期刊栏目 研究与设计
研究方向 页码范围 1805-1807,1853
页数 4页 分类号 TM912
字数 3479字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-087X.2018.12.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张涛 中国矿业大学现代分析与计算中心 72 358 11.0 16.0
2 王超 中国矿业大学现代分析与计算中心 110 667 14.0 22.0
3 何亚群 中国矿业大学化工学院 73 546 14.0 19.0
7 李红 中国矿业大学化工学院 16 510 4.0 16.0
8 余嘉栋 中国矿业大学化工学院 2 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
失效钴酸锂
衍射峰偏移
Fenton
评价方法
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