免缠绕型光回波损耗测试仪在双工光纤跳线测试中的应用

• 作者: 何如龙 孙强
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 双工光纤跳线 光插入损耗 光回波损耗 极性判断
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 138-139
• 页数: 2页
• 分类号: TN929.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2018.02.138

摘要

介绍了免缠绕型光回波损耗测试仪测试光插入损耗和光回波损耗工作原理,结合光耦合器给出了双工光纤跳线快速测试插回损的装置和判断极性的方法.实验结果表明,该装置和方法能显著提高产品测试效率,且测试结果具有较好的重复性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙强	中国电子科技集团公司第四十一研究所	32	139	7.0	10.0
2	何如龙		26	123	6.0	10.0