基于FPGA和Nios系统的智能电子测试仪器的研究

• 作者: 潘红娜 蔡振兴
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: FPGA Nios系统 智能电子测试仪器
• 年，卷（期）: 2018,（19）
• 所属期刊栏目: 实验研究
• 页码范围: 90-91,89
• 页数: 3页
• 字数: 3479字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-5059.2018.19.033

摘要

随着我国科学技术的不断进步,电子产品的设计已经逐渐走向智能化阶段.电子测试仪器是电子产品设计过程当中不可或缺的工具,电子测试仪器也需要根据电子产品的需求步入智能化阶段.于是,对于电子测试仪器的研究成为了我国目前电子领域发展的重要环节.目前,国内外对于智能电子测量仪器的研究已经取得了显著成效,许多公司也已经研究出了适合检测电子产品性能的电子测试仪器.本文将介绍一款基于FPGA和Nios系统的智能电子测试仪器,对智能电子测试仪器进行深入的研究,旨在提供给电子企业一种电子测试仪器设计思路,帮助电子测试仪器进行深层次的创新.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡振兴		4	1	1.0	1.0
2	潘红娜		5	2	1.0	1.0