电压频控中抗强干扰软件关联缺陷检测

• 作者: 刘欣 孙辰军 张楠
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 电压频控 抗强干扰 软件缺陷 检测
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.04.004

摘要

针对传统电压频控软件缺陷检测技术未考虑软件缺陷分类,存在检测精度低的问题,提出一种电压频控中抗强干扰软件关联缺陷检测技术;对软件关联缺陷检测原理进行分析,采用判别函数对待测软件样本进行识别,引入统计模式识别算法处理软件原始数据,依据关联缺陷概率分配,确定关联缺陷类别,计算缺陷特征值,利用贝叶斯分类器对关联缺陷进行划分,完成抗强干扰软件关联缺陷的分类,从而实现关联缺陷的高精度检测;实验结果表明,该检测技术对软件缺陷进行准确分类,在保证强抗干扰性的前提下,有效提高了检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙辰军		25	119	7.0	10.0
2	张楠		3	3	1.0	1.0
3	刘欣		3	9	1.0	3.0