高速光耦瞬态共模抑制性能的电路仿真方法

• 作者: 张芮 王香芬 高会壮 黄姣英
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 瞬态共模抑制 PSpice仿真 高压脉冲 耦合参数 耦合电阻 耦合电容
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: TN364+.2-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.04.016

摘要

为了解决高速光电耦合器的瞬态共模抑制不能准确测试的问题,研究了光耦的耦合机理和瞬态共模抑制的测试原理.利用仿真技术对电路功能及瞬态共模抑制评估电路的耦合参数(包括耦合电阻与耦合电容)进行仿真和验证,分析了电路中的不同器件参数对仿真结果的影响,并且对得到的输出波形的数据进行读取与分析.以HCPL-2611为例,使用大电阻和小电容并联的模型模拟实际中的耦合情况,通过仿真分析确定了耦合电容的大小,验证了高速光耦瞬态共模抑制仿真方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	41	128	6.0	10.0
2	高会壮	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	2	3	1.0	1.0
3	张芮	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	6	7	2.0	2.0
4	王香芬	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	8	34	2.0	5.0