BIT技术发展及应用综述

• 作者: 李光升 王鉴渊
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 机内测试 测试性 智能BIT
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.04.001

摘要

BIT(built-in-test,也称机内测试、机内自检测)技术作为系统和设备故障检测、定位和隔离的一种手段,对于一些机载设备来说,是一种非常重要的自检方法,主要针对其系统故障,通过其自检的手段改善机载系统的测试性能或者提高设备的诊断能力;目前该种技术的使用频率不管是在国防领域还是在民营领域的系统研制中都很高;该文从机内测试技术的定义、类型、研究现状和展望未来发展趋势这几个方面进行了阐述;总结了大量的文献资料,介绍了BIT应用的功效:投入使用后缩短了设备系统的平均修复时间(MTTR);在战备时期提高了武器装备的完好性,在任务时期提高了任务成功率;另外还能缩减装备维修人员,放宽了对于技术人员的水平要求.总之随着装备复杂程度和技术含量越来越高,BIT技术在维修性和测试性领域占据重要的一席,是该领域的重要研究内容.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鉴渊	陆军装甲兵学院控制工程系	2	2	1.0	1.0
2	李光升	陆军装甲兵学院控制工程系	12	18	2.0	4.0