高光谱图像技术检测苹果外部损伤

• 作者: 刘付龙 刘晶晶 史铁 孙超 张晋宝 门洪
• 来源期刊: 中国食品学报
• 关键词: 苹果 光斑噪声 高光谱图像 主成分分析 二阶巴特沃斯高通滤波器
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 278-284
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16429/j.1009-7848.2018.01.036

摘要

利用高光谱分选仪对苹果进行图像获取,基于光谱图像信息实现对苹果的外部损伤检测.由于光谱图像间的数据巨大,具有冗余性和相关性,通过主成分降维法提取640 nm波段下的图像作为特征信息进行外部损伤检测.光谱特征图像上光斑噪声的存在是造成损伤检测效果不佳的原因,分析光谱图像光斑的图像特征,利用二阶巴特沃斯高通滤波器抑除图像频域内的光斑信号,同时增强损伤区域的边缘图像信息.对比滤波前、后的特征图像损伤检测效果,滤波后的图像数据更能真实表现出样本自身的数据特点,结果表明:经过二阶巴特沃斯高通滤波器滤波后的苹果损伤检测效果明显,正确率达到95％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	门洪	东北电力大学自动化工程学院	49	215	8.0	12.0
2	刘晶晶	东北电力大学自动化工程学院	12	22	3.0	4.0
3	刘付龙	东北电力大学自动化工程学院	1	7	1.0	1.0
4	史铁	东北电力大学自动化工程学院	1	7	1.0	1.0
5	孙超	东北电力大学自动化工程学院	1	7	1.0	1.0
6	张晋宝	东北电力大学自动化工程学院	1	7	1.0	1.0