不同粒级辉钼矿的XRD和SEM及其可浮性差异研究

• 作者: 何廷树 李慧 王宇斌 袁航 靳建平
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 辉钼矿 可浮性 粒级 晶型 X射线衍射 扫描电镜
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 页码范围: 3588-3592
• 页数: 5页
• 分类号: TK952
• 字数: 4746字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2018)11-3588-05

摘要

在浮选过程中,微细粒级的辉钼矿回收难度较大,易损失在尾矿中.为了分析不同粒级辉钼矿可浮性差异,揭示细粒级辉钼矿可浮性恶化的原因,以-150+74,-74+45,-45+38和-38μm四个粒级辉钼矿为研究对象,通过辉钼矿纯矿物浮选试验,首次利用X射线衍射分析(XRD)、扫描电镜(SEM)及能谱(EDS)分析,对四个粒级辉钼矿的可浮性及其晶型特征和外在形貌的变化规律进行系统研究和对比.研究表明:随着粒级的减小,辉钼矿的可浮性降低,浮选效果恶化,且辉钼矿的可浮性由非极性、低能、疏水的“面”和活泼、亲水的“棱”的面积比决定.辉钼矿在受外力作用下由粗粒级变成细粒级过程中,首先主要是沿解理面破裂,然后沿断裂面的破裂增多,导致面棱比减小,辉钼矿的可浮性下降;同时辉钼矿晶型结构由3R亚稳定状态转变为2H型稳定状态.此外,与3R型的粗粒级辉钼矿相比,微细粒级辉钼矿以2H型为主,且其(002)晶面的面间距逐渐增大,导致水分子容易进入晶体结构内部,并在矿物表面形成水化膜,辉钼矿亲水性增强.晶型的不同使不同粒级辉钼矿的物理性质发生变化,面间距的增大则使辉钼矿断裂面暴露的亲水性钼-硫键数目增多,两者是细粒级辉钼矿亲水性增强及可浮性下降的本质原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何廷树	西安建筑科技大学材料与矿资学院	173	1676	20.0	32.0
2	李慧	西安建筑科技大学材料与矿资学院	33	93	6.0	9.0
3	王宇斌	西安建筑科技大学材料与矿资学院	83	156	7.0	8.0
4	袁航	西安建筑科技大学材料与矿资学院	6	87	2.0	6.0
5	靳建平		14	25	3.0	3.0