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摘要:
探测深度是衡量测井仪器探测性能的核心指标.探测深度受源距、频率、地层电阻率和仪器对微弱信号的分辨能力等多种因素的影响.基于并矢格林函数理论,研究仪器探测深度与源距和地层电阻率的关系.根据仪器响应对地层电阻率的敏感性,提出将地层划分为双向敏感区、单向敏感区和不敏感区的方法,分析不同敏感区探测深度的变化规律.在双向敏感区,电阻率对比度越大探测深度越大;在单向敏感区,探测深度只随着敏感区电阻率变化;在同一不敏感区,即使地层电阻率对比度很大,探测深度很小甚至为零.搭建长源距定向测井缩比模型实验平台,研究不同电阻率对比度时仪器的响应特性,验证了不同敏感区探测深度变化规律的正确性.研究结果可为测井仪器线圈系设计提供理论依据.
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文献信息
篇名 长源距定向电磁波测井仪器探测深度影响因素分析
来源期刊 电工技术学报 学科 工学
关键词 定向 电磁波测井 探测深度 敏感性 缩比模型
年,卷(期) 2018,(22) 所属期刊栏目 电工理论
研究方向 页码范围 5254-5260
页数 7页 分类号 TM153
字数 3586字 语种 中文
DOI 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.180441
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘国强 中国科学院电工研究所 76 311 11.0 14.0
5 张超 中国科学院电工研究所 136 1671 22.0 38.0
9 李艳红 中国科学院电工研究所 35 149 7.0 11.0
10 夏正武 中国科学院电工研究所 13 15 3.0 3.0
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研究主题发展历程
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定向
电磁波测井
探测深度
敏感性
缩比模型
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电工技术学报
半月刊
1000-6753
11-2188/TM
大16开
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
6-117
1986
chi
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38
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195555
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