紫外吸收光谱法检测SF6分解产物中的H2S

• 作者: 夏桓桓 崔兆仑 张晓星 杨宇玲 杨雪滢 郭新良
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: H2S SF6 紫外吸收光谱法 检测波段 体积分数反演 吸收峰
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 输变电设备状态监测与故障诊断
• 页码范围: 2573-2579
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20180425001

摘要

H2S作为SF6的一种重要分解组分,其体积分数的检测可以为SF6电气绝缘设备的绝缘状态评估提供重要依据.H2S在波长为190～230 nm的紫外波段具有明显的吸收峰,为此,建立了H2S紫外吸收光谱检测平台以实现对它的检测.但是,通过仪器直接获得的紫外吸收光谱易受到光谱散射和高频噪声干扰,从而造成检测灵敏度降低.因此,采用紫外差分算法和小波函数对原始吸收光谱进行体积分数反演,以获得光谱数据与气体体积分数之间的关系.研究结果表明:经光谱数据提取获得的频域信息与体积分数之间有很好的线性关系,其线性拟合优度(R2)高达0.999 9,体积分数检出限为0.590×10-6,将获得的反演表达式用于实际数据检测同样获得了很好的检测效果.该方法对H2S的检测重复性好,灵敏度高,可以集成到便携式的检测设备中,适用于SF6绝缘设备分解组分中痕量H2S的在线监测,