基于M-Sift特征的元器件目标检测及其在点胶机中的应用

• 作者: 吴建华 张烨 漆志亮 贾楠
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: Sift特征 M-Sift特征 目标检测 目标定位 相关匹配 点胶机
• 年，卷（期）: 2018,（23）
• 所属期刊栏目: 电子技术及应用
• 页码范围: 153-156
• 页数: 4页
• 分类号: TN710-34|TP75
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.23.033

摘要

针对工业生产线上自动点胶机、产品质量检测或自动焊接等任务的需求,提出一种基于改进的Sift(M-Sift)特征的目标检测算法.所提算法以图像块为基本匹配单位代替Sift特征的关键点检测,图像块的特征提取采用M-Sift特征,既提高了计算效率又保持了Sift特征的优势.对大量、多种类的目标检测和定位实验表明,提出的基于M-Sift特征的目标检测与定位算法达到了很高的性能,优于传统基于模型的目标定位和识别方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建华	南昌大学信息工程学院	41	357	11.0	18.0
2	张烨	南昌大学信息工程学院	14	85	6.0	9.0
3	漆志亮	南昌大学信息工程学院	3	3	1.0	1.0
4	贾楠	南昌大学信息工程学院	3	3	1.0	1.0