基于结构特征与LLE算法的数字仪表校验系统

• 作者: 包玉树 吴剑 孙军 胡永建 黄亚龙
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 数字仪表 校验系统 结构特征 LLE算法 图像处理 降维
• 年，卷（期）: 2018,（24）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 10-13,17
• 页数: 5页
• 分类号: TN873+.5-34|TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.24.003

摘要

针对数字仪表校验人工读取数据时存在的误差问题,提出一种基于多特征与局部线性嵌入算法(LLE)结合的数字仪表校验方法.首先将字符图像从RGB转换到HSI色彩空间,在I空间对图像进行分割,并利用投影法分割出单个字符;然后对字符图像提取结构特征,由于单纯的结构特征对字符的描述不足,导致识别精度较低,故文中利用LLE算法对字符二值图像降维,将降维后的像素特征与结构特征相结合;最后,利用支持向量机(SVM)对字符特征进行识别.实验结果显示,所提方法提高了校验系统的字符识别率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包玉树	东南大学电气工程学院	24	62	5.0	6.0
3	孙军		10	13	2.0	3.0
4	黄亚龙		6	8	2.0	2.0
5	胡永建		8	5	2.0	2.0
6	吴剑		5	5	2.0	2.0