一种考虑温度和电压的超级电容寿命预测方法

• 作者: 关永 单金生 吴立锋 王洪民
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 超级电容 退化 寿命 预测
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 90-92,96
• 页数: 4页
• 分类号: TM53
• 字数: 4362字
• 语种: 中文

摘要

介绍了超级电容的退化特征,阐释了影响其寿命衰减的因素,比较了各因素在超级电容退化过程中的作用,重点阐述了退化因素中环境温度和使用电压对超级电容寿命的影响.提出了基于现有的寿命数据或者经验法则,对工作在不同温度和电压下的超级电容寿命的预测方法,并把这种方法应用于对超级电容退化特征参数的预测,为超级电容的合理使用提供参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关永	首都师范大学信息工程学院高可靠嵌入式系统技术北京市工程研究中心电子系统可靠性技术北京市重点实验室	95	1336	17.0	33.0
2	吴立锋	首都师范大学信息工程学院高可靠嵌入式系统技术北京市工程研究中心电子系统可靠性技术北京市重点实验室	15	83	5.0	8.0
3	王洪民	首都师范大学信息工程学院	4	15	3.0	3.0
4	单金生	首都师范大学信息工程学院高可靠嵌入式系统技术北京市工程研究中心电子系统可靠性技术北京市重点实验室	1	6	1.0	1.0