铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法

• 作者: 刘骥 廖俐琳 张明泽 朱东柏 陈昕 高欢
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 铜包铝导线 趋肤效应 邻近效应 高频损耗 解析计算
• 年，卷（期）: 2018,（14）
• 所属期刊栏目: 电工材料
• 页码范围: 3160-3169
• 页数: 10页
• 分类号: TM152
• 字数: 4780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.170645

摘要

为了在无线电能传输系统中,减小因高频电流趋肤效应和邻近效应产生的电阻损耗,提高线圈电能传输的利用率,针对铜包铝(CCA)线圈建立了电阻计算模型,分析导线内部电磁场的变化规律,同时结合电磁场边界条件,分别得到趋肤效应和邻近效应产生的交流电阻的解析计算表达式,通过仿真计算发现,在高频趋肤效应的影响下,体积分数较小的CCA导线的电阻值较大,随着频率的增大,趋肤效应增强,不同体积分数CCA导线的电阻值将趋于一致.在外界交变磁场的影响下,当频率较低时,纯铜导线内部涡流损耗密度较高,纯铜导线电阻大于CCA导线电阻,随着频率的增大,存在临界频率使二者电阻相等;当频率继续增大时,CCA导线内部涡流损耗密度增加,其电阻值大于纯铜导线.CCA导线周围的磁场强度分布与导线及磁场施加角度θ有关,当θ值(0°～360°)不同时,磁场强度以螺旋上升方式分布.根据实测高频下CCA导线线圈的电阻曲线,对比解析理论计算电阻曲线发现,解析表达式可满足实际测试要求,对高频下CCA导线的线圈损耗分析具有一定指导意义.