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摘要:
Heterostructures from mechanically-assembled stacks of two-dimensional materials allow for versatile electronic de-vice applications. Here, we demonstrate the intrinsic charge transport behaviors in graphene-black phosphorus heterojunc-tion devices under different charge carrier densities and temperature regimes. At high carrier densities or in the ON state, tunneling through the Schottky barrier at the interface between graphene and black phosphorus dominates at low temper-atures. With temperature increasing, the Schottky barrier at the interface is vanishing, and the channel current starts to decrease with increasing temperature, behaving like a metal. While at low carrier densities or in the OFF state, thermal emission over the Schottky barrier at the interface dominates the carriers transport process. A barrier height of~67.3 meV can be extracted from the thermal emission-diffusion theory.
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篇名 Intrinsic charge transport behaviors in graphene-black phosphorus van der Waals heterojunction devices
来源期刊 中国物理B(英文版) 学科
关键词 black phosphorus heterojunction contact barrier height
年,卷(期) 2018,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 548-554
页数 7页 分类号
字数 语种 英文
DOI 10.1088/1674-1056/27/7/077303
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black phosphorus
heterojunction
contact
barrier height
研究起点
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期刊影响力
中国物理B(英文版)
月刊
1674-1056
11-5639/O4
北京市中关村中国科学院物理研究所内
eng
出版文献量(篇)
17050
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27962
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