三维CT技术在连接器中的应用

• 作者: 傅小敏 莫富尧 董武广 赵昊
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 三维 CT 连接器 分析
• 年，卷（期）: 2018,（19）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 字数: 1906字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.19.035

摘要

X射线三维显微镜(三维CT)能够以微米级的分辨率对样品的内部结构进行无损检测和三维成像,在高密度电子产品检测中广泛应用.首先介绍了X射线无损检测基本原理和三维CT的工作原理.然后,探讨了三维CT在复杂连接器结构分析、连接器原位状态检测以及连接器失效定位方面的应用.这些应用案例表明,三维CT在连接器测试分析中具有巨大的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵昊		4	3	1.0	1.0
2	莫富尧		1	1	1.0	1.0
3	董武广		2	2	1.0	1.0
4	傅小敏		3	3	1.0	1.0