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电子元器件可靠性增长的分析技术
元器件
可靠性增长
分析技术
基于热分析的电子元器件可靠性探讨
可靠性
温度特性
热优化设计
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
贮存可靠性
长期自然贮存
极限应力试验
加速贮存寿命试验
元器件可靠性增长评估
可靠性
增长
评估
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 关于电子元器件的二次筛选及可靠性分析
来源期刊 计算机产品与流通 学科 工学
关键词 电子元器件 二次筛选 可靠性
年,卷(期) 2018,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 94
页数 1页 分类号 TN606
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘晴 2 0 0.0 0.0
2 张瑜 2 0 0.0 0.0
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2018(0)
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研究主题发展历程
节点文献
电子元器件
二次筛选
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机产品与流通
周刊
1001-8786
CN 12-1276/TP
16开
北京市海淀区万泉河路68号紫金大厦18层
1984
chi
出版文献量(篇)
9226
总下载数(次)
115
总被引数(次)
7495
论文1v1指导