原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
在过度包装检测过程中,针对商品三维重建后的散乱点云无法进行后续空隙率判定的问题,提出一种基于De-naunay三角化和凸包算法的散乱点云结构化方法.首先,因为空间点云结构复杂,所以将空间点云进行切片和投影操作,也就是降维操作;其次,对投影数据点进行结构化处理,寻找初始点,依次对投影点按照极角大小进行排序;最后利用所构造的扫描线对数据点进行筛选和结构化.实验表明,基于Denaunay三角化和凸包算法的散乱点云结构化方法处理时间短,稳定性和精度高、适用性强,完全满足过度包装检测系统.与目前方法相比,该方法有更好的适用性,能够满足大多数平台的需求.
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文献信息
篇名 一种基于Graham扫描算法的空间点云结构化算法研究
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 过度包装 散乱点云 Graham扫描算法 Denaunay三角化 凸包算法 点云结构化
年,卷(期) 2018,(14) 所属期刊栏目 前沿交叉科学
研究方向 页码范围 139-142,146
页数 5页 分类号 TN919.2-34
字数 语种 中文
DOI 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.14.034
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张毅坤 71 825 15.0 25.0
2 陈浩 10 89 4.0 9.0
3 王凯 61 431 10.0 19.0
7 支煜 2 5 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
过度包装
散乱点云
Graham扫描算法
Denaunay三角化
凸包算法
点云结构化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
135074
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