基于电子控制器的片上可调式性结构设计研究

• 作者: 刘安才 景琴琴 郭松梅
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: JTAG技术 电子控制器 结构设计
• 年，卷（期）: 2018,（19）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 12-13
• 页数: 2页
• 字数: 2835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.19.003

摘要

本研究以JTAG技术为基础,对基于电子控制器的片上可调式性结构进行了设计.在研究的过程中,首先概述了JTAG技术的相关理论,然后基于JTAG协议规范和TAP控制器,设计了一种满足电子控制器的片上通用化可调试性结构,以实现全局地址空间的调试访问.通过对调试结构设计的实验,结果显示,这一调试结构能够缩短调试时间,并能够降低面积开销,同时还具有较可靠的调试链路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭松梅		15	10	1.0	3.0
2	景琴琴		13	16	1.0	4.0
3	刘安才		2	0	0.0	0.0