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摘要:
X射线显微镜具有分辨率高、透视成像等特点,成为不可替代的无损检测手段.国外近年来出现了一种基于肖特基式场发射阴极的X射线显微镜,其分辨率可达0.1m以内.本文系统分析了该显微镜的工作原理,并对显微镜的未来发展趋势进行了展望.
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文献信息
篇名 基于肖特基式场发射阴极的高分辨X射线显微技术开发进展
来源期刊 电子测试 学科
关键词 X射线显微镜 肖特基式场发射阴极
年,卷(期) 2018,(9) 所属期刊栏目 理论与算法
研究方向 页码范围 53-54
页数 2页 分类号
字数 2585字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.09.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘华荣 中国电子科技集团公司第三十八研究所 4 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线显微镜
肖特基式场发射阴极
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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36145
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