基于单片机的示波测试技术研究

• 作者: 杨宇 杨溢
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 单片机 示波器 测试
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 91,93
• 页数: 2页
• 字数: 2338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.02.044

摘要

本文对于基于单片机的示波测试技术进行分析和探讨,为其进一步发展提供创新的思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨宇		2	2	1.0	1.0
2	杨溢		1	1	1.0	1.0