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光电探测电路噪声分析与Pspice仿真
光电探测电路噪声分析与Pspice仿真
作者:
丁雷
张冬冬
张子儒
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
光电探测
PIN光电二极管
前置跨阻放大
Pspice仿真
摘要:
光电探测电路的设计会直接影响到光电探测系统的性能.对光电探测电路中光电二极管模型和前置跨阻放大电路进行了分析,针对光电探测电路中噪声来源,进行了详细分析并给出了其计算公式,基于实验元器件参数,计算了电路输出总噪声和信噪比.在Pspice上对前置跨阻放大电路进行了建模和仿真,分析了光电探测电路的时域特性、频域特性和噪声特性,通过参数扫描模块,分析了反馈电容对电路特性的影响,通过噪声分析模块,分析了电路噪声特性,并得到了系统等效噪声功率.
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基于PSpice的电子电路仿真与设计
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
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(/年)
文献信息
篇名
光电探测电路噪声分析与Pspice仿真
来源期刊
电子测试
学科
关键词
光电探测
PIN光电二极管
前置跨阻放大
Pspice仿真
年,卷(期)
2018,(9)
所属期刊栏目
设计与研发
研究方向
页码范围
8-10
页数
3页
分类号
字数
2214字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-8519.2018.09.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
丁雷
中国科学院上海技术物理研究所
28
153
7.0
11.0
5
张冬冬
中国科学院上海技术物理研究所
11
48
3.0
6.0
6
张子儒
4
6
2.0
2.0
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
光电探测
PIN光电二极管
前置跨阻放大
Pspice仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
主办单位:
北京自动测试技术研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市100098-002信箱
邮发代号:
82-870
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
总被引数(次)
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