存储测试仪磁场屏蔽效能仿真分析

• 作者: 王宇 陈昌鑫 马铁华
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 存储测试仪 磁场屏蔽 屏蔽效能 建模仿真
• 年，卷（期）: 2018,（18）
• 所属期刊栏目: 创新实践
• 页码范围: 144-145,147
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2018.18.144

摘要

针对存储测试仪的磁场屏蔽效能优化问题,采用控制变量法和变量扫描法,利用Ansoft Maxwell有限元分析软件对测试仪屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚这3个参数进行建模仿真,然后对不同参数的仿真结果进行对比,分析屏蔽体不同参数对屏蔽效能的影响.仿真结果表明,金属屏蔽体屏蔽效能受屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚影响且影响不可忽略,通过选用磁导率大的圆柱体金属屏蔽体、增加屏蔽体壁厚,可增大屏蔽体屏蔽效能,同时通过理论计算验证了仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马铁华	中北大学电子测试技术国家重点实验室	194	1323	17.0	27.0
2	王宇	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	24	133	6.0	11.0
3	陈昌鑫	中北大学电子测试技术国家重点实验室	29	190	6.0	13.0