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集成电路筛选过程中连接性失效分析及防范
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摘要：
本文主要是分析了集成电路筛选过程中连接性失效,并且在此基础之上提出针对性的防范措施,希望能够对相关人员起到参考性价值.
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
筛选
连接性失效
防范措施
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
通讯世界
主办单位：
中国科技信息研究所(ISTIC)
美国国际数据集团(IDG)
出版周期：
月刊
ISSN：
1006-4222
CN：
11-3850/TN
开本：
大16开
出版地：
北京复兴路15号138室
邮发代号：
82-551
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
31562
总下载数（次）
90
总被引数（次）
56487
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