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关于Rubbing工艺产生Cell Scratch的根本原因和改善方向的研究
关于Rubbing工艺产生Cell Scratch的根本原因和改善方向的研究
作者:
杨勇
汪剑成
童虎
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
TFT-LCD
Rubbing工艺
CelScratch
摘要:
为了改善TFT-LCD行业Cell Scratch这一常见不良,首先需要明确不良主要发生在哪一道生产工序,产生的原因有哪些.本文重点介绍了Rubbing相关工艺原理、对重要原材Rubbing Cloth进行了介绍、分析了Rubbing关联的Cell Scratch类型,明确了Rubbing产生相关Cell Scratch的根本原因,从而找到了有效的改善方法.
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文献信息
篇名
关于Rubbing工艺产生Cell Scratch的根本原因和改善方向的研究
来源期刊
电子世界
学科
关键词
TFT-LCD
Rubbing工艺
CelScratch
年,卷(期)
2018,(3)
所属期刊栏目
探索与观察
研究方向
页码范围
34-35
页数
2页
分类号
字数
2829字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杨勇
1
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2
童虎
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3
汪剑成
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2018(0)
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二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
TFT-LCD
Rubbing工艺
CelScratch
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
半月刊
ISSN:
1003-0522
CN:
11-2086/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市
邮发代号:
2-892
创刊时间:
1979
语种:
chi
出版文献量(篇)
36164
总下载数(次)
96
总被引数(次)
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